Nanoindenteur jusqu’à 50 mN de force
iNano
1. Précis, flexible et convivial
2. Large éventail de tests nanomécaniques
3. Couches minces et matériaux mou
(> 50 mN de force)
Applications de la nanoindentation
- Mesures de dureté et de module (Oliver-Pharr)
- Cartes de propriétés matérielles à haute vitesse
- Essai de dureté ISO 14577
- Delta polymère, module de stockage et de perte
- Essais quantitatifs de rayures et d'usure
- Test de nanoindentation à haute température
- les industries
- Revêtements durs
- Plaquettes semi-conductrices
- Céramique et Verres
- métaux et alliages
- Batteries et stockage d'énergie
- Recherche et développement
- Pharmaceutique, alimentaire et soins personnels
- Automobile et aérospatiale
-
Essais universels à l'échelle nanométrique
- Revêtements durs
Plus d'info sur les applications
- Adhésion
- Dureté
- Module d'young
- Scratch
La Nanoindentation avec une force jusqu'à 1N
Le nanoindenteur iNano® facilite la mesure des films minces, des revêtements et des petits volumes de matériau. L'instrument précis, flexible et convivial peut effectuer une vaste gamme de tests mécaniques à l'échelle nanométrique, notamment les tests d'indentation, de dureté, de rayures et de nanoscopes universels. La large plage dynamique des mesures de force et de déplacement permet aux matériaux des polymères mous aux métaux d'être testés avec précision et répétabilité. Les options modulaires peuvent s'adapter à une variété d'applications: cartes de propriétés des matériaux, tests de fréquence, tests de rayures et d'usure et tests à haute température. INano propose une gamme complète d'options pour élargir les tests, notamment le chauffage des échantillons, la mesure de la rigidité continue, la cartographie des propriétés NanoBlitz3D / 4D et l'option vidéo distante.
L'iNano est doté de l'actionneur InForce 50 pour l'exécution de tests de nanoindentation et de nanomécanique universels. La plage de forces 50mN et de déplacements 50 µm de l’InForce 50 permet au système de réaliser une large gamme de tests. Le logiciel InView est un progiciel flexible et moderne qui facilite les tests à l'échelle nanométrique. L'iNano est une plate-forme compacte dotée d'un contrôleur InQuest à haute vitesse et d'un portique d'isolation des vibrations intégré au boîtier. Une large gamme de matériaux et de dispositifs peut être testée, notamment des métaux, des céramiques, des composites, des films minces, des revêtements, des polymères, des biomatériaux et des gels.
AVANTAGES
- Précis, flexible et convivial
- Large éventail de tests nanomécaniques
- Couches minces et matériaux mou (> 50 mN de force)
- Actionneur InForce 50 pour la mesure de déplacement capacitif et l'actionnement de force électromagnétique avec embouts interchangeables
- Système unique d'étalonnage de la pointe intégré au logiciel pour une calibration rapide et précise de la pointe
- Électronique de contrôleur haute vitesse InQuest avec taux d'acquisition de données de 100 kHz et constante de temps de 20µs
- Système de mouvement XY avec porte-échantillon magnétique à montage facile
- Microscope intégré avec zoom numérique pour un ciblage précis de l'indentation
- ISO 14577 et méthodes d'essai normalisées
- Package logiciel InView avec RunTest, ReviewData, rapports InFocus, formation en ligne InView University et application mobile InView
Options
Mesure de rigidité continue (CSM)
La mesure continue de la rigidité est utilisée pour quantifier les propriétés dynamiques du matériau, telles que la vitesse de déformation et les effets induits par la fréquence. La technique CSM implique l'oscillation de la sonde pendant l'indentation pour mesurer les propriétés en fonction de la profondeur, de la force, du temps ou de la fréquence. L'option est fournie avec une expérience de taux de contrainte constante qui mesure la dureté et le module en fonction de la profondeur ou de la charge, méthode de test la plus couramment utilisée dans les universités et l'industrie. CSM est également utilisé pour d'autres options de mesure avancées, y compris la méthode ProbeDMA ™ pour les mesures de stockage et de module de perte et les mesures AccuFilm ™ indépendantes du substrat. Le CSM est intégré au contrôleur InQuest et au logiciel InView pour offrir une facilité d'utilisation et une qualité des données.
Chauffage des échantillons à 300 ° C
L'option de chauffage d'échantillon à 300 ° C permet de placer l'échantillon dans une chambre pour un chauffage uniforme tout en subissant des tests simultanés avec les actionneurs InForce 1000 ou InForce 50. L'option comprend un contrôle de température de haute précision, un remplissage de gaz inerte pour réduire l'oxydation et un refroidissement pour éliminer la chaleur perdue. ProbeDMA, AccuFilm, NanoBlitz et CSM sont tous compatibles avec l'option de chauffage d'échantillons.
NanoBlitz 3D
NanoBlitz 3D utilise l'actionneur InForce 50 ou InForce 1000 et un embout Berkovich pour générer des cartes 3D de propriétés nanomécaniques pour les matériaux à facteur E élevé (> 3GPa). NanoBlitz exécute jusqu’à 100 000 retraits (matrice 300x300) à <1 seconde par retrait et fournit les valeurs de module de Young (E), de dureté (H) et de rigidité (S) à une charge spécifiée pour chaque retrait du réseau. Le grand nombre de tests permet une précision statistique accrue. Les graphiques d'histogramme montrent plusieurs phases ou matériaux. Le package NanoBlitz 3D inclut des fonctionnalités de visualisation et de traitement des données.
NanoBlitz 4D
NanoBlitz 4D utilise l'actionneur InForce 50 ou InForce 1000 et un embout Berkovich pour générer des cartes 4D des propriétés nanomécaniques des matériaux à faible E / H et à haut E (> 3GPa). NanoBlitz exécute jusqu’à 10 000 retraits (matrice 30x30) toutes les 5 à 10 secondes et fournit les valeurs de module de Young (E), de dureté (H) et de rigidité (S) en fonction de la profondeur de chaque retrait dans la matrice. NanoBlitz 4D utilise une méthode à vitesse de déformation constante. Le package comprend des fonctionnalités de visualisation et de traitement des données.
AccuFilm ™ Pack Méthode Couches Minces
AccuFilm est une méthode de test InView basée sur le modèle Hay-Crawford pour mesurer les propriétés des matériaux indépendants du substrat à l'aide de la mesure de rigidité continue (CSM). AccuFilm corrige l'influence du substrat sur les mesures de film pour les films durs sur des substrats mous, ainsi que pour les films mous sur des substrats durs.
Biomatériaux Méthode Pack
Le Biomatériaux Méthode Pack offre la possibilité de mesurer le module complexe de biomatériaux avec des modules de cisaillement de l’ordre de 1 kPa, et utilise la mesure de rigidité continue (CSM). Le pack comprend une pointe plate et une méthode de test pour évaluer les propriétés viscoélastiques. Cette technique de mesure est essentielle pour caractériser les biomatériaux à petite échelle qui ne sont pas bien desservis par les instruments rhéométriques traditionnels.
Survey Scanning
Méthode de test de rayures et d’usure
DataBurst
DataBurst permet aux systèmes équipés du logiciel InView et du contrôleur InQuest d’enregistrer des données de déplacement à des vitesses> 1 kHz pour la mesure de charges de déformation, de sauts et d’autres événements à grande vitesse. Les systèmes iMicro équipés de l'option de développement de méthodes utilisateur peuvent également modifier les méthodes pour travailler avec DataBurst.
Développement de méthodes utilisateur pour le logiciel de contrôle InView
InView est une plate-forme puissante et intuitive de script d'expérimentation pouvant être utilisée pour concevoir des expériences nouvelles ou complexes. Les utilisateurs expérimentés peuvent configurer et réaliser pratiquement n'importe quel test mécanique à petite échelle à l'aide du système iMicro équipé de l'option exclusive InView.
Isolation active des vibrations avec le système de rack modulaire
True Test I-V Mesures électriques
Option vidéo à distance
L'option vidéo à distance fournit deux angles de vision supplémentaires dans la chambre iNano, en plus de l'objectif de microscope existant. Un support est monté pour se concentrer sur la pointe du pénétrateur pendant le test, une configuration idéale pour les flexions et les matériaux mous. Le second support se monte sur le portique pour visualiser à la fois l'échantillon et l'objectif du microscope lors de la configuration du test. La commutation de la vue entre l'objectif du microscope standard et la caméra USB est contrôlée par logiciel.
Pointes d'indentation et échantillons d'étalonnage
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