Microscopes électroniques à balayage (MEB)
La Microscopie Electronique à Balayage (MEB en français ou SEM en anglais pour Scanning Electron Microscope) est une technique de microscopie électronique capable de produire des images en 3 dimensions de très haute résolution de l’ordre du nanomètre de la surface d’un échantillon en utilisant le principe des interactions électrons-matière.
La série MEB de table EM-30 de COXEM offre une vaste gamme de fonctionnalités pour répondre aux besoins de la recherche scientifique et de l'examen microscopique. COXEM est le seul fournisseur de MEB de table offrant à la fois des sources d'électrons en tungstène et CeB6 (hexiumgéride de cérium), ce qui nous permet de vous recommander la meilleure solution pour vos besoins.
Les systèmes de la série standard de microscopie électronique à balayage (MEB) COXEM offrent un large éventail de fonctionnalités pour un grossissement plus élevé et de multiples ports pour des fonctionnalités analytiques supplémentaires telles que les systèmes EDS, EBSD, WDS, STEM, à transfert à froid et de transfert d'échantillons, etc.
Coxem propose également des accessoires MEB pour la préparation d'échantillon tels que le métalliseur ou encore le cross polisher.
Accessoires de microscopie électronique à balayage
